- 神经创伤学新进展2014
- 张赛 李建国主编
- 595字
- 2021-04-16 11:42:32
119.儿科创伤性脑损伤后工作记忆和胼胝体显微结构的完整性:扩散张量对脑白质的研究
Treble A,et al. J Neurotrauma,2013,30(19):1609-1619
工作记忆(WM)缺陷是一种常见的小儿创伤性脑损伤(TBI)的后遗症,它被认为是导致儿童一系列认知功能障碍及学习困难的原因。创伤性脑损伤后胼胝体(CC)的完整性的减低,破坏了两侧额顶叶神经网络之间的联系,由此而导致了WM。在本次调查研究中,作者采用扩散张量成像(DTI)对胼胝体白质8个亚区(CC1-CC8)进行扫描,并检查74例持续行创伤性脑损伤儿童的言语及视觉空间的WM,而相对于其他儿童,49例儿童有典型地进展。相对于对照组,创伤性脑损伤的儿童组视觉空间的WM更差,且与言语WM相当。在TBI组的儿童中,CC的微观结构破坏明显,且伴随着较低的分数各向异性(FA),并在所有胼胝体的亚区。较高的轴向和径向扩散系数指标。实验的两组儿童,在连接前后顶叶皮质区域的胼胝体亚区中,低FA和/或高径向扩散系数预示着言语WM较差,而在连接前后顶叶以及颞叶、皮质的胼胝体亚区,出现较高的径向扩散系数则预测贫差的视觉空间WM。DTI指标,尤其是径向扩散系数,对胼胝体亚区的WM预测作用要优于胼胝体余下部分,且两者相比具有显著差异。CC显微结构完整性的减少,尤其是在连接顶叶和颞叶皮层的亚区,可以作为导致长期WM缺陷的神经病理机制。在未来对神经解剖学的生物标志物进行临床运用,可能有利于早期识别存在高危WM缺陷的儿童,并能更早为这些孩子提供干预措施。
(苏景良)